Tidens de fabrikaazje fan flatpaneldisplay (FPD) wurde tests útfierd om de funksjonaliteit fan 'e panielen te kontrolearjen en tests om it produksjeproses te evaluearjen.
Testen tidens it arrayproses
Om de panielfunksje te testen yn it arrayproses, wurdt de arraytest útfierd mei in arraytester, in arraysonde en in probe-ienheid.Dizze test is ûntworpen om de funksjonaliteit te testen fan TFT-array-sirkels dy't foarme binne foar panielen op glêzen substraten en om eventuele brutsen triedden of koarte broeken te detektearjen.
Tagelyk, om it proses te testen yn it arrayproses om it sukses fan it proses te kontrolearjen en it foarige proses te feedback te jaan, wurde in DC-parametertester, TEG-sonde en probe-ienheid brûkt foar TEG-test.("TEG" stiet foar Test Element Group, ynklusyf TFT's, kapasitive eleminten, draadeleminten, en oare eleminten fan it array circuit.)
Testen yn ienheid / moduleproses
Om de panielfunksje te testen yn selproses en moduleproses, waarden ljochttests útfierd.
It paniel wurdt aktivearre en ferljochte om in testpatroan te werjaan om panieloperaasje, puntdefekten, linedefekten, chromaticiteit, chromatyske aberraasje (net-uniformiteit), kontrast, ensfh.
D'r binne twa ynspeksjemetoaden: ynspeksje fan it fisuele paniel fan 'e operator en automatyske ynspeksje fan it paniel mei in CCD-kamera dy't automatysk defektdeteksje en pass / mislearre testen útfiert.
Seltesters, selprobes en probe-ienheden wurde brûkt foar ynspeksje.
De moduletest brûkt ek in mura-deteksje- en kompensaasjesysteem dat automatysk mura as unevenness yn 'e werjefte detektearret en mura mei ljocht-kontroleare kompensaasje elimineert.
Post tiid: Jan-18-2022